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                  化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>聚焦離子束顯微鏡(FIB)>AX 系列 尼康共聚焦超分辨率顯微鏡

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                  AX 系列 尼康共聚焦超分辨率顯微鏡

                  具體成交價以合同協議為準

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                  上海迪發儀器儀表有限公司是一家專注于科研儀器和生命科學研究試劑的公司。公司致力于為國內外生命科學研究人員提供優質專業的產品和服務,提供國內外的產品。產品涵蓋Haier系列、REPHILE系列、HAMILTON系列、廈門致微系列、德國伯托系列、上海知楚、深圳理邦、藝斯高系列等。

                   

                  海爾超低溫冰箱,默克系列儀器、德國伯托系列儀器,樂楓純水設備,Hamilton儀器耗材,ESCO儀器設備等。

                  產地 進口 儀器分類 FIB

                  AX/AX R 尼康共聚焦超分辨率顯微鏡具有廣闊的視野及更佳的像秦密度,能夠采集組織中更廣、更深的數據。其出色的高靈敏度和高掃描速度減小了對標本的光毒性,同時對標本的破壞程度降至很低。AX/AX R 的圖像采集/分析功能運用人工智能(AI)算法,可高效采集穩定的可靠性數據。

                  最新研發的尼康空間陣列共聚焦 (尼康空間陣列: 尼康空間陣列共焦) 成像技術,其陣列型檢測器可收集每個掃描點上的二維圖像,進一步還原空間超微結構。全新水準的超低噪聲高靈敏度空間探測能力擴展了共聚焦成像潛能,使分辨率超越1個艾里斑 (~230納米*),并提高了圖像信噪比。

                  尼康共聚焦超分辨率顯微鏡帶來嶄新共聚焦成像解決方案

                  無論倒置和正置顯微鏡的視場都高達 25 mm(對角線),更多物鏡選項,更豐富的樣品選擇盡可兼容超大視野成像。

                  結合高達 8192 X 8192 像素的掃描尺寸,AX/AX R共聚焦顯微鏡即使使用低倍物鏡也能在超越光學衍射極取樣。

                  低放大倍率配合長工作距離和高數值孔徑使得標本制備更加靈活。而在滿足大視場觀察的同時,還可在單張圖像上實現高分辨率。使得在每張圖像上收集的數據更多、更快。

                  AX/AXR的25 mm (對角線) 視場遠大于其他共聚焦設備。


                  以更小的干擾觀察

                  激光掃描共聚焦在成像時由于使用光密度的點照明并需要逐點掃描照射樣品,因此對樣品具有較高的光毒性。

                  AX R的高速共振掃描相對常規掃描其照明時間縮短了 20多倍,因此光毒性得到了顯著的降低。

                  采集時間的縮短還實現了的成像速度(2048 X 16 像素分辨率下,頓率達 720 fps)。

                  由于更低的光毒性及更高的采樣速度,使活樣品獲得了更長的存活時間并可進行更高頻次的數據采集,這不僅有利于活樣本的高速動態事件及更長時程的成像,也能極大提高藥物開發研究(如微孔板篩選)的效率。


                  采集速度更快

                  傳統共聚焦顯微鏡需要逐點掃描,所以在高分辨率下進行高質量三維成像就極為耗時。

                  而 AX R 共振掃描所能獲得的高速成像能力將顛您的這一認知!


                  以及超微細節

                  憑借25 mm 視場、高達8192 X 8192 分辨率及超高的拍攝頓率,AX/AX R 在高、低放大倍率上都能展現令人驚嘆的細節結構。

                  僅需一套設備即能完成從生命個體到亞細胞結構的全域成像。

                  此高分辨率能力有助于藥物開發中的靶標選擇。


                  可調檢測器匹配染料

                  AX/AX R 帶來全新 DUX-VB 檢測器可根據熒光蛋白或染料屬性調整采集波段,并能自由地精細調整,從而很大程度地減少多通道熒光成像串色。

                  只需選擇標本中的標記個數及名稱系統即可智能匹配。

                  另外,還可定義所需的發射范圍,甚至只定義所需的發射顏色: 下的事情則交給 AXAX R和 NIS-Elements 軟件來完成,包括優化適合成像的二向色鏡和激光波長選項。

                  或者,采集多達 66 個發射通道的高光譜圖像,并可用于光譜拆分功能。

                  此外,AX/AX R 基礎型 DUX-ST 檢測器可以使用 12 個帶通濾片,并可進一步升級到 18。

                  所有檢測器系統都可選擇靈敏度高、噪音低的 GaAsP PMT 檢測器或 MA-PMT 檢測器從而可為不同靈敏度、波長響應要求及預算提供合適的檢測器選擇。


                  共聚焦成像光學組件

                  從原材料到顯微鏡系統,尼康完整把控光學組件的制造及裝配流程,為您竭誠奉上光學質量和性能。

                  統一的光學設計意味著共聚焦系統、顯微鏡和物鏡皆經過優化和匹配,可實現質量和分辨率。

                  尼康 CFI60/CFI75 無限遠校正光學系統具有廣泛選擇的倍率、工作距離和浸液介質選項,可與廣泛多樣的樣本及標本制劑配合使用。


                  超分辨率3D共聚焦成像

                  NSPARC 的陣列探測具備多重采樣能力,可借助每一像秦同步收集熒光信號,可同時提高水平及軸向分辨率。

                  通過設定可在光學上限定 NSPARC 探測器所獲得的信號,即使對于厚樣本(如腦神經、類器官和器官芯片)的 3D 觀察,也能實現高信噪比的共聚焦成像。

                  尼康可提供各類物鏡以適配不同標本,包括更能匹配生物樣品折射率的硅油物鏡。輔以 AX/AX R的25 mm 超大視野,該系統支持更加廣泛的物鏡選擇,能夠獲得從全視野到細節的豐富圖像數據,并對其進行測量和分析。


                  NSPARC 空間陣列探測技術

                  傳統單點掃描共聚焦只能對每個掃描點獲取一個強度信號,NSPARC 具有 25 個檢測單元其工作時就像一臺靈敏度很高的相機: 探測器會收集來自每個掃描點的二維空間信息。

                  NSPARC 光路中具備變倍透鏡,使其可以配合各種物鏡和倍率使用,同時允許用戶定義探測器陣列上的熒光光斑大小。對來自共聚焦平面單個艾里斑的發射光實現了過采樣。利用該二維信息即可獲得傳統共聚焦探測中丟失的超精細結構。


                  極為靈活的硬件配置

                  NSPARC 探測器在 AX/AX R 系統中可獨立使用,其也可與 DUX-VB 或ST 探測器以及選配的透射光探測器搭配使用。




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